Kombination von Fokussiertem Ionenstrahlfräsen und Rasterelektronenmikroskopbildgebung
EP4377682
Art A1
5. Juni 2024
Anmelder: KLA Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4377682
- Aktenzeichen
- EP23750059
- Anmeldetag
- 18. Januar 2023
- Veröffentlichung
- 5. Juni 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/225G01N23/2204H01J37/05H01J37/10H01J37/20H01J37/30H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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