Verfahren zur Herstellung eines Substrats mit mehreren Spitzen für die Rastersondenmikroskopie

EP4379397 Art A1 5. Juni 2024

Anmelder: Imec VZW 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4379397
Aktenzeichen
EP22210487
Anmeldetag
30. November 2022
Veröffentlichung
5. Juni 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01Q70/06B81C1/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Imec VZW
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

2.629 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen