Detektionssonde, Sondenmikroskop und Probentemperaturmessverfahren
EP4382919
Art A1
12. Juni 2024
Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4382919
- Aktenzeichen
- EP22852532
- Anmeldetag
- 3. Februar 2022
- Veröffentlichung
- 12. Juni 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01Q70/14G01Q60/58G01Q70/10G01K11/00G01K11/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Mewburn Ellis LLP
Mewburn Ellis LLP · München