System und Verfahren zum Gewichten von Defekten mit Kolokalisierten Modellierten Fehlern

EP4385063 Art A1 19. Juni 2024

Anmelder: KLA Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4385063
Aktenzeichen
EP23763823
Anmeldetag
22. Februar 2023
Veröffentlichung
19. Juni 2024
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/66G01R31/317G01R31/3183
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen