Transistor mit Integrierter Source-Drain-Diode

EP4394884 Art A3 8. Januar 2025

Anmelder: United Silicon Carbide Inc., Qorvo US, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4394884
Aktenzeichen
EP23218249
Anmeldetag
19. Dezember 2023
Veröffentlichung
8. Januar 2025
Rechtsraum
EP
IPC
H01L29/10H01L29/808// H01L29/06
Offizieller Volltext

Abstract

Vertical junction field-effect transistors (VJFETs) with integrated source-drain anti-parallel diodes are described. In an embodiment, a trench VJFET with integrated source-drain anti-parallel diodes structure is coupled with a low-voltage metal oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET) in a dual gate cascode configuration.

Anmelder

Firmen
United Silicon Carbide Inc.
Qorvo US, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Qorvo US

Qorvo US ist ein US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in North Carolina, spezialisiert auf HF-Bauelemente für Mobilfunk und Netzwerktechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Schaltungstechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt um Nachrichtentechnik. Anmeldungen stammen aus den Jahren 2011 bis 2025.

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