Testsystem zur Fehlererkennung in mehreren Einrichtungen Gleichen Typs
EP4397983
Art A1
10. Juli 2024
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4397983
- Aktenzeichen
- EP23213158
- Anmeldetag
- 29. November 2023
- Veröffentlichung
- 10. Juli 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28G01R31/316G01R31/3167G01R31/317G01R31/3187
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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