Inspektionsvorrichtung zum Abtasten und Inspizieren eines Untersuchten Objekts
EP4414695
Art A1
14. August 2024
Anmelder: Nuctech Company Limited 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4414695
- Aktenzeichen
- EP22877901
- Anmeldetag
- 29. September 2022
- Veröffentlichung
- 14. August 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/046G01N23/02G01V5/226G01V5/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nuctech Company Limited
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
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