Stochastische Wafer mit Prüfung der Kantenplatzierungsgleichförmigkeit

EP4427031 Art A1 11. September 2024

Anmelder: KLA Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4427031
Aktenzeichen
EP23785190
Anmeldetag
30. März 2023
Veröffentlichung
11. September 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/00// H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen