Probeninspektionsautomatisierungssystem und Verfahren zur Zuweisung von Festpositionsinformationen

EP4428539 Art A1 11. September 2024

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4428539
Aktenzeichen: EP22889685
Anmeldetag: 26. September 2022
Veröffentlichung: 11. September 2024
Rechtsraum: EP
IPC: G01N35/00H04L61/5038

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von