Schaltung zur Messung einer Ableitung

EP4435439 Art B1 17. September 2025

Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4435439
Aktenzeichen: EP24164609
Anmeldetag: 19. März 2024
Veröffentlichung: 17. September 2025
Erteilung: 17. September 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01R19/12// G01R1/20

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: STMicroelectronics International N.V.
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 STMicroelectronics International

Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.

733 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von