Verfahren und Vorrichtung zum Analysieren eines Bildes einer Mikrostrukturierten Probe für die Mikrolithographie
EP4468251
Art A1
27. November 2024
Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4468251
- Aktenzeichen
- EP24176552
- Anmeldetag
- 17. Mai 2024
- Veröffentlichung
- 27. November 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06V10/44G06V20/69
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss SMT GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss SMT
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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