Verfahren und Vorrichtung zum Analysieren eines Bildes einer Mikrostrukturierten Probe für die Mikrolithographie

EP4468251 Art A1 27. November 2024

Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4468251
Aktenzeichen
EP24176552
Anmeldetag
17. Mai 2024
Veröffentlichung
27. November 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G06V10/44G06V20/69
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Carl Zeiss SMT GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Carl Zeiss SMT

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

1.949 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen