Vorrichtungen, Testkarten und Verfahren zum Testen von Photonischen Integrierten Schaltungen und Photonische Integrierte Schaltungen

EP4479755 Art A1 25. Dezember 2024

Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4479755
Aktenzeichen
EP23704730
Anmeldetag
8. Februar 2023
Veröffentlichung
25. Dezember 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01R1/073
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Carl Zeiss SMT GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Carl Zeiss SMT

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

1.949 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen