Probenhalter, Elektronenmikroskopsystem und Probenbeobachtungsverfahren
EP4481790
Art A3
19. Februar 2025
Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4481790
- Aktenzeichen
- EP24165053
- Anmeldetag
- 21. März 2024
- Veröffentlichung
- 19. Februar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/20H01J37/26H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Mewburn Ellis LLP
Mewburn Ellis LLP · München