Vorrichtung zur Wellenlängenaufgelösten Strahlüberwachung

EP4492140 Art A1 15. Januar 2025

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4492140
Aktenzeichen
EP23184336
Anmeldetag
10. Juli 2023
Veröffentlichung
15. Januar 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/00G01J3/18G01J3/32
Offizieller Volltext

Abstract

System an apparatus for wavelength resolved beam profiling. The apparatus comprises a beam monitoring assembly configured to receive a radiation beam comprising a plurality of wavelengths, and to provide a diffracted radiation of the plurality of wavelengths, wherein each of the plurality of wavelengths is spatially separated in the diffracted radiation. The apparatus comprises a color selector configured to select a portion of the diffracted radiation. The apparatus comprises a detector configured to detect the selected diffracted radiation and to generate beam profile data of the selected radiation. The color selector is movable to select each of the plurality of diffracted wavelengths of the diffracted radiation such that the plurality of wavelengths do not overlap when incident on the detector.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen