System und Verfahren zur Bestimmung eines Dotierungsprofils einer Probe
EP4511635
Art A1
26. Februar 2025
Anmelder: Technische Universiteit Eindhoven 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4511635
- Aktenzeichen
- EP23719917
- Anmeldetag
- 21. April 2023
- Veröffentlichung
- 26. Februar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/3586H01L21/66G01Q60/22G01J3/42G01N21/63G01N21/17G01N33/00G01N21/95
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Technische Universiteit Eindhoven
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Technische Universiteit Eindhoven
Die Technische Universiteit Eindhoven ist eine niederländische Technische Hochschule mit breiter Forschung in Medizintechnik, Halbleitertechnik und Materialwissenschaften. Ihr Patentportfolio deckt Medizintechnik, Halbleiterbauelemente, Mess- und Softwaretechnik ab.
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