Bildvorverarbeitung für Überlagerungsmetrologie unter Verwendung von Zerlegungstechniken

EP4515334 Art A1 5. März 2025

Anmelder: KLA Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4515334
Aktenzeichen
EP23873512
Anmeldetag
26. September 2023
Veröffentlichung
5. März 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/20G03F7/00G01B11/27
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen