Fehlerbeseitigungsverfahren, das durch eine Nfc-Vorrichtung Implementiert Wird

EP4518171 Art A1 5. März 2025

Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4518171
Aktenzeichen: EP24192820
Anmeldetag: 5. August 2024
Veröffentlichung: 5. März 2025
Rechtsraum: EP
IPC: H04B5/77

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: STMicroelectronics International N.V.
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 STMicroelectronics International

Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.

733 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von