Zerstörungsfreies Zuverlässiges Bestimmen von Probenparameterwerten
EP4519658
Art A1
12. März 2025
Anmelder: SPECS Surface Nano Analysis GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4519658
- Aktenzeichen
- EP23727446
- Anmeldetag
- 1. Mai 2023
- Veröffentlichung
- 12. März 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/2273
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SPECS Surface Nano Analysis GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Fachgebiete
Vertreten von
Dumlich, Heiko Alexander
Berlin, Deutschland
13
Patente gesamt
4
Fachgebiete
2
Anmelder-Länder
Schwerpunkte