Abgeschirmter Detektor für Ladungsträgerteilchenmikroskopie
EP4525020
Art A3
21. Mai 2025
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4525020
- Aktenzeichen
- EP24194040
- Anmeldetag
- 12. August 2024
- Veröffentlichung
- 21. Mai 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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