Verfahren und System zur Ausrichtung einer Probe zur Inspektion mit Ladungsträgerteilchenmikroskopie

EP4530614 Art B1 4. Februar 2026

Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4530614
Aktenzeichen: EP24201710
Anmeldetag: 20. September 2024
Veröffentlichung: 4. Februar 2026
Erteilung: 4. Februar 2026
Rechtsraum: EP
IPC: G01N23/203

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FEI COMPANY
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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