Adaptive Slice-Tiefe in einem Slice- und Ansichtsarbeitsablauf

EP4530615 Art A1 2. April 2025

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4530615
Aktenzeichen: EP24201620
Anmeldetag: 20. September 2024
Veröffentlichung: 2. April 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N23/2202G01N23/225G01N23/2251H01J37/304H01J37/31

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FEI Company
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von