Verfahren zum Betreiben einer Ansteuervorrichtung, Ansteuervorrichtung, Optisches System und Lithographieanlage
Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4530720
- Aktenzeichen
- EP24199439
- Anmeldetag
- 10. September 2024
- Veröffentlichung
- 4. Juni 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/00G02B26/08G05D3/12
Abstract
Ein Verfahren zum Betreiben einer Ansteuervorrichtung (100) zum Ansteuern und zum Vermessen einer Mehrzahl N von Aktuatoren (201-225) zum Aktuieren zumindest eines optischen Elements (310) eines optischen Systems (300), wobei während eines bestimmten Vermessungszeitraums ein einzelner zu vermessender Aktuator (201) der N Aktuatoren (201-225) vermessen wird, in dem der zu vermessende Aktuator (201) mittels einer von einer Ansteuereinheit (110) bereitgestellten Anregungsspannung (UA) angeregt wird (S1), ein für einen zeitabhängigen Strom (IA) des mittels der Anregungsspannung (UA) angeregten Aktuators (201) indikativer Messstrom (IM) durch eine Strommesseinheit (120) bereitgestellt wird (S2), eine für eine zeitabhängige Spannung des mittels der Anregungsspannung (UA) angeregten Aktuators (201) indikative Messspannung (UM) durch eine Spannungsmesseinheit (130) bereitgestellt wird (S3), ein Impedanz-Messergebnis (M) basierend auf dem bereitgestellten Messstrom (IM) und der bereitgestellten Messspannung (UM) ermittelt wird (S4) und eine für einen Fehler (F) in der Ansteuervorrichtung (100) indikative Abweichung basierend auf dem ermittelten Impedanz-Messergebnis (M) bestimmt wird (S5), wobei die N-1 weiteren Aktuatoren (202-225) der N Aktuatoren (201-225) auf einem bestimmten Spannungslevel gehalten werden, während der zu vermessende Aktuator (201) mittels der Anregungsspannung (UA) angeregt wird.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss SMT GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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