Tensorale Vorlagenanpassung
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4530998
- Aktenzeichen
- EP23315374
- Anmeldetag
- 29. September 2023
- Veröffentlichung
- 2. April 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06V10/75G06V20/69
Abstract
A method of template matching a tensorial template of a target particle to identify instances of that target within a tomogram comprises obtaining a tensorial template of the target particle, wherein the tensorial template describes the shape at all rotations of the target particle with a tensor field, and using the tensorial template to identify instances of that target particle within a tomogram.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
881 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
-
Boult Wade Tennant LLP
Boult Wade Tennant LLP · London