Zweisäulenparalleler Ccd-Sensor und Inspektionssysteme mit Sensor

EP4534987 Art A1 9. April 2025

Anmelder: Kla-Tencor Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4534987
Aktenzeichen
EP25157265
Anmeldetag
5. April 2017
Veröffentlichung
9. April 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/95G01N21/956H04N25/63H04N25/71H04N25/713H04N25/715H04N25/72H04N25/75H10F39/15
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Kla-Tencor Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

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