Verfahren zur Reduzierung von Sic-Mosfet-Gatespannungsstörungen

EP4540616 Art A1 23. April 2025

Anmelder: Teradyne, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4540616
Aktenzeichen: EP23824638
Anmeldetag: 16. Juni 2023
Veröffentlichung: 23. April 2025
Rechtsraum: EP
IPC: H03K17/16G01R31/28G01R31/26G01R19/12G01R23/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Teradyne, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Teradyne

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

462 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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