Systeme und Verfahren zum Testen Elektrischer Verbindungen zwischen einem Chip und einer Externen Schaltung
EP4545981
Art A1
30. April 2025
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4545981
- Aktenzeichen
- EP24207699
- Anmeldetag
- 21. Oktober 2024
- Veröffentlichung
- 30. April 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R27/26G01R31/28G01R31/66G01R31/71
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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