Schwankungsbasiertes Verfahren zur Bestimmung von Defekten unter der Oberfläche einer Probe

EP4553490 Art A1 14. Mai 2025

Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4553490
Aktenzeichen: EP23208133
Anmeldetag: 7. November 2023
Veröffentlichung: 14. Mai 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/84G01N21/88G01N21/90G06T7/00G01N25/72G01N29/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Mitutoyo Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Mitutoyo Corporation

Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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