Minimierung von Coulomb-Interaktionen und Energiestreuung in Systemen mit Fokussiertem Ionenstrahl (fib)

EP4553884 Art A1 14. Mai 2025

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4553884
Aktenzeichen: EP24210105
Anmeldetag: 31. Oktober 2024
Veröffentlichung: 14. Mai 2025
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/04H01J37/147H01J37/30

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: FEI Company
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von