Transiente Defektinspektion unter Verwendung eines Inspektionsbildes

EP4555474 Art A1 21. Mai 2025

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4555474
Aktenzeichen
EP23745408
Anmeldetag
6. Juli 2023
Veröffentlichung
21. Mai 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G06T7/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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