System und Verfahren zum Zählen von Partikeln auf einem Detektor Während der Inspektion

EP4558845 Art A1 28. Mai 2025

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4558845
Aktenzeichen
EP23745140
Anmeldetag
20. Juli 2023
Veröffentlichung
28. Mai 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01T1/17H01L27/00H04N5/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen