Zusammengesetztes Mapping mit Variablen Parametern für Geladene Teilchenstrahlen zur Bildgebung und Energiedispersiven Röntgenspektroskopie
EP4575476
Art A1
25. Juni 2025
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4575476
- Aktenzeichen
- EP24215071
- Anmeldetag
- 25. November 2024
- Veröffentlichung
- 25. Juni 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/2252
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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