Verfahren zur Konfiguration eines Sichtfeldes einer Inspektionsvorrichtung

EP4581426 Art A1 9. Juli 2025

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4581426
Aktenzeichen: EP23750624
Anmeldetag: 2. August 2023
Veröffentlichung: 9. Juli 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G03F7/00G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML Netherlands B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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