System und Verfahren zur Detektion von Partikeln mit einem Detektor Während der Inspektion

EP4581685 Art A1 9. Juli 2025

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4581685
Aktenzeichen
EP23751599
Anmeldetag
1. August 2023
Veröffentlichung
9. Juli 2025
Rechtsraum
EP
IPC
H01L31/115H01J37/244
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen