Verbessertes Rasterelektronenmikroskop und Verfahren zu dessen Verwendung
EP4589630
Art A1
23. Juli 2025
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4589630
- Aktenzeichen
- EP24152038
- Anmeldetag
- 16. Januar 2024
- Veröffentlichung
- 23. Juli 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/28H01J37/20H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
-
Boult Wade Tennant LLP
Boult Wade Tennant LLP · London