System mit Fokussiertem Ionenstrahl
EP4593057
Art A2
30. Juli 2025
Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4593057
- Aktenzeichen
- EP25151960
- Anmeldetag
- 15. Januar 2025
- Veröffentlichung
- 30. Juli 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Jeol Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
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