Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Falten in Unbeschichteten Abschnitten einer Elektrodenplatte

EP4597028 Art A1 6. August 2025

Anmelder: SAMSUNG SDI CO., LTD. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4597028
Aktenzeichen: EP24218711
Anmeldetag: 10. Dezember 2024
Veröffentlichung: 6. August 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01B11/24G01B11/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SAMSUNG SDI CO., LTD.
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Samsung SDI

Südkoreanisches Unternehmen der Samsung-Gruppe, das Batterien und Energiespeichersysteme für Elektrofahrzeuge, Elektronikgeräte und stationäre Anwendungen entwickelt und produziert.

1.775 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von