Verfahren, Röntgendiffraktionssystem und Programm zur Berechnung des Fehlschnittwinkels einer Festen Einkristallprobe
Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4607183
- Aktenzeichen
- EP25159261
- Anmeldetag
- 21. Februar 2025
- Veröffentlichung
- 27. August 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/207
Abstract
A method comprises the steps of: when a Bragg angle corresponding to the crystal lattice plane is referred to as θ, making an X-ray incident on the sample at a first incident angle ω<sub>1</sub> of θ-δ or more and θ+δ or less, measuring 1 or 2 peak positions of φ by measuring a diffracted X-ray intensity while rotating the sample in-plane with the φ as a central axis, making an X-ray incident on the sample at a second incident angle ω<sub>2</sub> of θ-δ or more and θ+δ or less different from a first incident angle ω <sub>1</sub>, measuring 1 or 2 peak positions of φ by measuring a diffracted X-ray intensity while rotating the sample in-plane with the φ as a central axis, and calculating the δ from the ω<sub>1</sub>, the ω<sub>2</sub> and the peak positions of the φ obtained by the measurement.
Anmelder
- Firma
- Rigaku Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.
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Fachgebiete
Seit über 50 Jahren nahe dem Europäischen Patentamt in München tätig, deutscher Kern der EUROMARKPAT-Gruppe. Eigene Büros in Russland, der Ukraine und weiteren Ländern Osteuropas und Eurasiens ermöglichen direkte Vertretung ohne lokale Kanzleien.