Interferometrisches Durchflussmessverfahren und -System mit einer Optischen Ferrule Konfiguriert mit Zentralen Glasfasern zur Unterstützung eines Robusten Interferenzmustersuchers
EP4621415
Art A1
24. September 2025
Anmelder: Honeywell International Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4621415
- Aktenzeichen
- EP25159596
- Anmeldetag
- 24. Februar 2025
- Veröffentlichung
- 24. September 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01P5/26G01P13/02G01B9/02G02B6/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Honeywell International Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Honeywell
US-amerikanischer Mischkonzern mit Schwerpunkten in Luft- und Raumfahrttechnik, Automatisierungslösungen, Gebäudetechnik sowie Spezialchemikalien und -materialien für Industrie- und Verteidigungskunden.
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