Verfahren zur Detektion von Artefakten in Infrarotbeleuchteten Ir-Bildern
EP4629172
Art A1
8. Oktober 2025
Anmelder: Aptiv Technologies AG 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4629172
- Aktenzeichen
- EP24168398
- Anmeldetag
- 4. April 2024
- Veröffentlichung
- 8. Oktober 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/11
Abstract
The present disclosure relates to a computer implemented method for detecting artifacts in infrared (IR) illuminated IR images. Artifacts are separated from real objects by analyzing results of regression line fits to histograms of pixel values. Artifacts will have smooth transition gradients and therefore will show smaller deviations of the regression line fit to the histogram data.
Anmelder
- Firma
- Aptiv Technologies AG
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
Aptiv
Technologieunternehmen der Automobilzulieferindustrie mit Sitz in der Schweiz, das elektrische Architekturen, Sensorik, Software und vernetzte Systeme für Fahrzeuge entwickelt.
1.951 Patente in unserer Datenbank