Transmissionselektronenmikroskop, Bildklassifizierungsverfahren und Elektronenstrahleinstellverfahren

EP4629278 Art A1 8. Oktober 2025

Anmelder: JEOL Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4629278
Aktenzeichen: EP25164549
Anmeldetag: 18. März 2025
Veröffentlichung: 8. Oktober 2025
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/147H01J37/244H01J37/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: JEOL Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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