Vorrichtung für Geladene Teilchenstrahlen und Analyseverfahren
EP4632788
Art A1
15. Oktober 2025
Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4632788
- Aktenzeichen
- EP25166701
- Anmeldetag
- 27. März 2025
- Veröffentlichung
- 15. Oktober 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/22H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Jeol Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
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