Vorrichtung und Verfahren mit Spannungsmessstrukturen zur Bestimmung der Verteilung Mechanischer Spannungen in einem Halbleitermaterial

EP4653833 Art A1 26. November 2025

Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4653833
Aktenzeichen: EP25176623
Anmeldetag: 15. Mai 2025
Veröffentlichung: 26. November 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01L1/22G01L5/00G01L1/26G01L5/16

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: STMicroelectronics International N.V.
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 STMicroelectronics International

Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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