Driftkompensation für Strahlungsempfindliche Proben

EP4657489 Art A2 3. Dezember 2025

Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4657489
Aktenzeichen: EP25174607
Anmeldetag: 6. Mai 2025
Veröffentlichung: 3. Dezember 2025
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/22H01J37/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: FEI COMPANY
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von