Verfahren zur Identifizierung von Defekten bei einer Elektronischen Leiterplatte, Entsprechende Vorrichtung, System und Computerprogramm
EP4679110
Art A1
14. Januar 2026
Anmelder: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V., MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4679110
- Aktenzeichen
- EP24306163
- Anmeldetag
- 10. Juli 2024
- Veröffentlichung
- 14. Januar 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.
MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Mitsubishi Electric R&D Centre Europe
Niederländische Forschungs- und Entwicklungseinrichtung des japanischen Mitsubishi-Electric-Konzerns. Betreibt technologische Forschung für Elektronik-, Kommunikations- und Automatisierungslösungen für den europäischen Markt.
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🇯🇵
Mitsubishi Electric
Japanisches Unternehmen, das Elektro- und Elektroniktechnik entwickelt und herstellt, darunter Automatisierung, Energie-, Klima- und Fahrzeugtechnik.
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Plasseraud IP · Paris