Beobachtungsinstrument und Steuerungsverfahren für Probenträger

EP4679483 Art A2 14. Januar 2026

Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP4679483
Aktenzeichen: EP25178621
Anmeldetag: 23. Mai 2025
Veröffentlichung: 14. Januar 2026
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/20

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

520 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von