System und Verfahren zur Fehlerkorrektur mit mehreren Nutzlastlängen
EP4699000
Art A1
25. Februar 2026
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4699000
- Aktenzeichen
- EP24793258
- Anmeldetag
- 10. April 2024
- Veröffentlichung
- 25. Februar 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/10G06F3/06G06F7/523G06F17/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Marks & Clerk LLP
Marks & Clerk LLP · Luxembourg