Schaltung und Verfahren zur Versorgungsspannungs-Störsignaldetektion

EP4711965 18. März 2026

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4711965
Anmeldetag
26. September 2024
Veröffentlichung
18. März 2026
Rechtsraum
EP
IPC
(HEO DONGHUN et al.)
Offizieller Volltext

Abstract

A glitch detection circuit (200) is arranged detect a glitch on a digital supply (150) and comprises a glitch sense threshold generator (132), a path delay circuit (133) comprising two parallel paths, wherein the first path provides a first output of a slow signal path of the digital supply to be detected that is used as a positive glitch threshold signal (530) and the second path provides a second output of a slow signal path of the digital supply to be detected that is used as a negative glitch threshold signal (540). A comparator circuit (134) is arranged to compare the digital supply to be detected with the first output of a slow signal path and the second output of a slow signal path; wherein the output of the comparator circuit indicates a power glitch on the digital supply in response to the positive or negative glitch threshold signals.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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