Schaltung und Verfahren zur Versorgungsspannungs-Störsignaldetektion
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4711965
- Anmeldetag
- 26. September 2024
- Veröffentlichung
- 18. März 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- (HEO DONGHUN et al.)
Abstract
A glitch detection circuit (200) is arranged detect a glitch on a digital supply (150) and comprises a glitch sense threshold generator (132), a path delay circuit (133) comprising two parallel paths, wherein the first path provides a first output of a slow signal path of the digital supply to be detected that is used as a positive glitch threshold signal (530) and the second path provides a second output of a slow signal path of the digital supply to be detected that is used as a negative glitch threshold signal (540). A comparator circuit (134) is arranged to compare the digital supply to be detected with the first output of a slow signal path and the second output of a slow signal path; wherein the output of the comparator circuit indicates a power glitch on the digital supply in response to the positive or negative glitch threshold signals.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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