Bin-Basierte Abtastung von Radardetektionen

EP4715605 25. März 2026

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4715605
Anmeldetag
4. September 2025
Veröffentlichung
25. März 2026
Rechtsraum
EP
Offizieller Volltext

Abstract

A technique of identifying features of objects in a physical environment of a set of radar sensors includes accessing a plurality of bin identifiers assigned to respective radar detections made by the set of radar sensors, the bin identifiers specifying respective bins. A bin has at least (i) a first dimension representing a range of distance values and (ii) a second dimension representing a range of Doppler values. The technique further includes selecting radar detections based on the bin identifiers, the selecting producing a plurality of samples, and processing the plurality of samples to determine one or more features of the objects.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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