Bin-Basierte Abtastung von Radardetektionen
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4715605
- Anmeldetag
- 4. September 2025
- Veröffentlichung
- 25. März 2026
- Rechtsraum
- EP
Abstract
A technique of identifying features of objects in a physical environment of a set of radar sensors includes accessing a plurality of bin identifiers assigned to respective radar detections made by the set of radar sensors, the bin identifiers specifying respective bins. A bin has at least (i) a first dimension representing a range of distance values and (ii) a second dimension representing a range of Doppler values. The technique further includes selecting radar detections based on the bin identifiers, the selecting producing a plurality of samples, and processing the plurality of samples to determine one or more features of the objects.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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