Detektionsanordnung, Kaskadierte Detektionsanordnung und Optisches Scanmikroskop

EP4718138 1. April 2026

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4718138
Anmeldetag
25. September 2024
Veröffentlichung
1. April 2026
Rechtsraum
EP
IPC
(BIRK HOLGER et al.)(NIKON CORP et al.)
Offizieller Volltext

Abstract

A detection arrangement (102, 302, 402, 602, 704, 806) for an optical scanning microscope (100, 300, 400, 600, 700, 800) comprises a beam splitting element (120) configured to receive descanned detection light (118), to direct a first part (118a) of the detection light (118) having a first wavelength range into a first beam path (128a), and to direct a second part (118b) of the detection light (118) having a second wavelength range different from the first wavelength range into a second beam path (128b). The first beam path (128a) comprises a first array detector (124a) configured to receive the first part (118a) of the detection light (118), and the second beam path (128b) comprises a second array detector (124b) configured to receive the second part (118b) of the detection light (118). The detection arrangement (102, 302, 402, 602, 704, 806) further comprises an upstream dispersive element (126, 804) arranged upstream of the beam splitting element (120) and configured to spectrally separate the descanned detection light (118).

Anmelder

Firma
Leica Microsystems CMS GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

  • Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB

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