Verfahren zur Bestimmung einer Apodisierungsmodifizierung einer Bezugsmarke zur Charakterisierung einer Pupille eines Optischen Systems

EP4726471 15. April 2026

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4726471
Anmeldetag
16. Februar 2026
Veröffentlichung
15. April 2026
Rechtsraum
EP
IPC
G03F1/44, G03F7/00
Offizieller Volltext

Abstract

A method of determining an apodization modification of a fiducial for characterizing a pupil of an optical system of an apparatus, the fiducial comprising a plurality of reflective areas, the method comprising obtaining an apodization characteristic of a first reflective area, wherein during nominal operation of the apparatus the first reflective area is arranged outside an illumination field of the apparatus; performing in-situ a first pupil measurement of the optical system by arranging the first reflective area within the illumination field; performing in-situ a second pupil measurement of the optical system by arranging a second reflective area of the fiducial within the illumination field, wherein during nominal operation of the apparatus the second reflective area is arranged within the illumination field; and determining the apodization modification of the fiducial based on the obtained apodization characteristic and the first and second pupil measurements.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Vertreten von

  • ASML Netherlands B.V.

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